Name: Échantillonneurs de Faisceau Raie Laser Nd:YAG dia. 25,4 mm, 266 nm
Brand: TECHSPEC
SKU: 38-993
Price: €152,50

Échantillonneurs de Faisceau Raie Laser Nd:YAG dia. 25,4 mm, 266 nm

TECHSPEC® Nd:YAG Laser Line Beam Samplers

Stock #38-993 3-4 jours

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Qté 1-5
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Espace téléchargement

Angle d'Incidence (°):

0 ±5

Ouverture Utile (%):

Traitement:

Laser V-Coat (266nm)

Spécification du Traitement:

R_abs <0.25% @ 266nm

Longueur d'Onde de Conception DWL (nm):

266

Diamètre (mm):

25.40 +0.00/-0.10

Indice de Réfraction n_d:

1.458

Parallélisme (arcmin):

Fused Silica (Corning 7980)

Planéité de Surface (P-V):

λ/10

Qualité de Surface:

10-5

Épaisseur (mm):

6.35 ±0.20

Type:

Beam Sampler

3 J/cm² @ 266nm, 20ns, 20Hz

Conformité réglementaire

RoHS 2015:

Conforme

Reach 209:

Conforme

Certificate of Conformance:

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Description commune pour les Produits de la même Famille

La première surface non traitée fournit la réflexion de Fresnel
Traitement avec seuil de dommage laser élevé sur une surface
Qualité de surface de 10-5

Des Échantillonneurs de Faisceau Raie Laser Nd:YAG sont utilisés pour diviser une petite portion d'un faisceau laser incident via la réflexion de Fresnel fournie par la surface non traitée afin de surveiller le faisceau. Ces échantillonneurs de faisceau présentent d'excellentes propriétés physiques minimisant les effets sur le faisceau traversant, notamment une qualité de surface de 10-5 et une planéité de surface de λ/10. Un traitement antireflets avec seuil de dommage élevé est appliqué à la seconde surface pour limiter les réflexions fantômes. Les Échantillonneurs de Faisceau Raie Laser Nd:YAG sont fabriqués en silice fondue UV, ce qui permet une excellente transmission des UV aux IR et un faible coefficient de dilatation thermique. Des échantillonneurs de faisceau traités antireflets pour les raies laser antireflets aux longueurs d'onde de 266 nm, 355 nm, 532 nm et 1064 nm sont disponibles.

Remarque : les Échantillonneurs de Faisceau Raie Laser peuvent être utilisés avec des produits de détection laser pour la surveillance des propriétés du faisceau, telles que la puissance et le profil du faisceau, en temps réel.