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Search Results for: Imagerie NIR basée sur le silicium traité de phosphore (1495 - 1595 nm) (380)

Imagerie hors ligne de visée

Regardez par-delà le mur grâce aux lasers et à l'imagerie. En savoir plus chez Edmund Optics !

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Quelle est la différence entre le montage de Rowland et le montage polychromateur pour les réseaux de diffraction ?

Understanding Rowland circle and polychromator mounts for diffraction gratings is important for selecting the proper concave grating for your application.

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Systèmes d'imagerie sur le rover martien Persévérance

23 systèmes d'imagerie aident le rover martien Perseverance à rechercher des signes d'eau et de vie sur Mars. Consultez notre série « Tendances en optique ».

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Vous proposez de nombreux substrats pour les applications UV et IR. Comment savoir ce qui me convient le mieux ?

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Le bon matériau pour les applications infrarouges (IR)

Vous utilisez une application infrarouge ? Découvrez l'importance de choisir le bon matériau et les différences entre eux chez Edmund Optics.

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Les différents types de distorsion en imagerie

La distorsion est une aberration individuelle qui détourne l'information. Apprenez comment la calculée ou cartographier à partir d'une image.

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Qu'est-ce que le SWIR ?

En savoir plus sur l'Infrarouge Court chez Edmund Optics !

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Les effets de la longueur d'onde sur les performances

Edmund Optics explique les problématiques liées à la longueur d'onde pour obtenir des informations à partir d'un système d'imagerie et comment les résoudre.

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Sites de fabrication d’EO dans le monde entier

Edmund Optics® (EO) fabrique des millions de composants et sous-ensembles optiques de précision chaque année dans ses 5 sites de production mondiaux.

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Tout savoir sur les réseaux de diffraction

Découvrez les différents réseaux de diffraction, comment ils séparent la lumière incidente en faisceaux distincts et comment choisir le meilleur réseau.

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Lentilles Liquides en Imagerie

Un autofocus rapide et des limites de profondeur de champ dépassées

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L'avenir des objectifs de microscope

Tendances en Optique d'EO : Les innovations dans le domaine de la microscopie s'attaquent aux problèmes du futur.

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F/#, ouverture numérique et débit de lumière dans le système

Le f/# est l'un des réglages les plus importants de votre objectif, car il contrôle plusieurs paramètres. Découvrez l'impact du f/# chez Edmund Optics.

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Utiliser des Composants à Monture C avec le Système de Cage Optique

Choisir le bon composant de fixation pour optimiser la performance d’un système optique - EO offre des montures pour toute une gamme de composants optiques.

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Guide de sélection des polariseurs

Le guide de sélection des polariseurs d'Edmund Optics permet d'affiner votre recherche d'un type spécifique de polariseur.

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Les défis de spécifier le LIDT pour les lasers CW

The LIDT of continuous wave (CW) lasers is dependent on laser power, beam diameter, and other use parameters.

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Comprendre les sources d’erreurs dans le positionnement de précision

Les erreurs dans le positionnement des appareils peuvent être réparties en deux types : l’inexactitude et l’imprécision.

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Comprendre la distance focale et le champ de vision

Comprendre la distance focale et le champ de vision des objectifs d'imagerie par le biais de calculs, de la distance de travail et d'exemples chez EO.

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Une nouvelle génération de lasers pour l’Ultraviolet

Ces lasers UV CW petits et économiques permettent à davantage d'applications de passer aux longueurs d'onde UV pour une puissance et précision accrues.

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Objectifs pour le cinéma

Lentilles asphériques permettant un streaming vidéo haute qualité

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Comprendre l'Objectif Corrigé à l'Infini, le Pouvoir de Résolution et le Grossissement

Terminologie Clé | Imagerie à Faible Grossissement | Imagerie à Fort Grossissement. En savoir plus !

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Distance de travail et distance focale : notions de base

Working distance and focal length are two of the most fundamental parameters of any imaging system. Learn more in this hands-on video demo.

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Les meilleures pratiques pour une meilleure imagerie

Vous utilisez constamment des systèmes d'imagerie ? Découvrez les meilleurs conseils pour améliorer votre système d'imagerie et vos pratiques chez EO !

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Comprendre et Spécificier le LIDT des Composants Laser

Laser induced damage threshold (LIDT) denotes the maximum laser fluence an optical component can withstand with an acceptable amount of risk.

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Modelage de faisceau laser par réflexion

Modelage de faisceau pour une puissance élevée et des durées d’impulsions courtes.

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La métrologie - un élément clé de la fabrication chez EO

Découvrez la métrologie qu'Edmund Optics® utilise pour garantir la qualité de tous les composants et assemblages optiques.

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L’importance du diamètre du faisceau pour le seuil de dommage laser

Le diamètre d'un laser affecte fortement le seuil de dommage induits par le laser (LIDT) d'un composant optique, car le diamètre du faisceau influence directement la probabilité qu’un endommagement induit par le laser se produise.

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Dommages volumiques causés par le laser dans le verre

Learn why the bulk laser-induced damage threshold (LIDT) of glass is significantly different than the LIDT optical components with coatings, such as AR thin films.

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Électronique d'Imagerie 101 : Compréhension des Capteurs de Caméra pour les Applications de Vision Industrielle

Capteurs de Caméra : Construction | Caractéristiques | Propriétés Spectrales

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Calculateur longueur de tube pour systèmes conjugués à l’infini

Outil de calcul de la longueur du tube ⇒ Systèmes de microscope corrigés à l'infini ✓ Éviter le vignettage en utilisant des lentilles tubes ⇒ En savoir plus !

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